Стационарный рентгеновский дифрактометр GNR Explorer

Стационарный рентгеновский дифрактометр Explorer может применяться для рутинного количественного и качественного фазового анализа, определения размера микрокристаллитов и микронапряжений, определения остаточного аустенита, структурного анализа, анализа тонких пленок и профилирования по глубине, анализ в специальных климатических и температурных камерах, анализ фазовых превращений, текстуры, изучения наночастиц.

Дифрактометр сертифицирован Госстандартом РФ. Программное обеспечение и документация на русском языке.
Все оборудование GNR обеспечивается сервисной и методической поддержкой в Центральном регионе России, на Урале, в Сибири и на Дальнем Востоке, в Беларуси.

Torque-гониометр:

• Уникальный высокомоментный torque-двигатель постоянного тока и оптические энкодеры положения позволяют достичь непревзойденной скорости и точности позиционирования гониометра — 0.1°.
• Прямой бесшестереночный привод лишен таких проблем, как люфты и гистерезис.
• Torque-двигатель надежен, имеет минимум движущихся частей, обеспечивает наилучшее соотношение момента кручения к инертности при больших нагрузках.

Непревзойденная гибкость:

• Explorer может быть оснащен рентгенофлуоресцентным (XRF) спектрометром высокого разрешения для проведения элементного анализа одновременно с фазовым.
• Использование быстрого полупроводникового позиционно-чувствительного XRD детектора позволяет выполнять анализ за 1 мин. Это необходимо при большом количестве измерений, исследовании фазовых переходов материалов, для промышленного применения.
• Оптическая схема позволяет работать как в геометрии Брегга-Брентано, так и в геометрии параллельного пучка, используя монохроматор Иоганссона и параболическое зеркало.
• Оснащение GNR Explorer роботизированным пробоподатчиком позволяет полностью автоматизировать процесс анализа.
• Дифрактометр позволяет проводить исследования высокоразрешающей рефлектометрии (XRR) для определения толщины пленок (от 1 до 500 нм) с точностью не хуже ±1%, плотности (с точностью не хуже ±0.03 г/см 3), шероховатости поверхности и границ раздела (от 0 до 5 нм с точностью не хуже 0.1 нм).
• Исследования тонких пленок и мультислойных структур проводится с использованием специальной приставки при геометрии скользящего пучка (GID).
• Совместное использование параболического зеркала и Channel-Cut монохроматора позволяет получать монохроматический параллельный пучок с низкой расходимостью для измерений с высоким разрешением (HRXRD).
• Explorer имеет возможность использования разнообразных температурных и климатических камер.
• Мощное, удобное в использовании программное обеспечение делает процесс измерения проще, чем когда-либо, и включает многочисленные специальные модули для помощи в рутиной работе и интерпретации результатов.

Технические характеристики: