.png){kind=icon}
)).png){kind=icon}
Сканирующий электронный микроскоп SM-50
- Обзор
- Характеристики
- Отзывы0
Сканирующий электронный микроскоп SM-50 имеет высокое разрешение (до 0,8 нм), которое сочетается с высоким контрастом изображения благодаря автоэмиссионному катоду типа Шоттки и использованию передовых сверхчувствительных детекторов. Высоковольтная туннельная технология (SuperTunnel), конструкция объектива с низким уровнем аберраций и отсутствием магнитной утечки идеально подходят для получения изображений с высоким разрешением при низком ускоряющем напряжении, в том числе для анализа магнитных образцов. Оптическая навигация, автоматические функции, хорошо продуманная эргономика, оптимизированные процессы эксплуатации — независимо от того, есть у вас опыт работы или нет, вы можете быстро приступить к работе и выполнять съемки с максимально высоким разрешением.
Основные преимущества:
- изображения с высоким разрешением при низком ускоряющем напряжении;
- электромагнитный комбинированный объектив уменьшает аберрации, значительно улучшает разрешение при низком напряжении и позволяет наблюдать магнитные образцы;
- технология высоковольтного туннеля (SuperTunnel), в котором электроны могут поддерживать высокую энергию, уменьшая эффект пространственного заряда, что гарантирует высокое разрешение при низком напряжении;
- большая рабочая камера;
- навигационная камера уже в базовой комплектации;
- регулируемая диафрагма с магнитным отклонением с шестью отверстиями, автоматическое переключение отверстий диафрагмы, отсутствие необходимости в механической регулировке позволяют быстро переключать ток пучка между аналитическим режимом и режимом высокого разрешения;
- системы автоматизации для качественной визуализации и настройки систем микроскопа.
Технические характеристики
| Тип микроскопа | Сканирующий |
| Характеристики электронной пушки: | |
| Тип катода | Термополевой катод типа Шоттки |
| Тип предметного столика: | |
| Пятиосевой моторизованный | Есть |
| Двухосевой моторизованный | Нет |
| Максимальный вес образца, г | 5 000 |
| Максимальный диаметр образца, мм | 270 |
| Ход по осям X и Y, мм | 120 × 115 |
| Воспроизводимость по осям X и Y, мкм | < 2,0 |
| Ход по оси Z, мм | 50 |
| Поворот, град. | 360 |
| Наклон, град. | –10/+90 |
| Ширина камеры, мм | 340 |
| Количество портов для установки дополнительных детекторов, шт. | 11 |
| Детекторы: | |
| Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли | Есть |
| ИК-камера для наблюдения положения образца в камере | Есть |
| Навигационная камера высокого разрешения | Есть |
| Интегрированная система измерения тока луча | Есть |
| Детектор вторичных электронов для низкого вакуума (LVD) | Нет |
| Внутрилинзовый детектор | Есть |
| Детектор обратно-отраженных электронов (BSED) | Опция |
| Детектор прошедших электронов (STEM) | Опция |
| Детектор для катодолюминесценции (CL) | Опция |
| Детектор Raman | Опция |
| ЭДС | Опция |
| ДОРЭ | Опция |
| ВДС | Нет |
| Режимы вакуума: | |
| Высокий вакуум, Па | < 5,0 × 10-6 |
| Низкий вакуум, Па | Нет |
| Безмасляная вакуумная система | Есть |
| Дополнительное оборудование: | |
| Литография | Опция |
| Крио-СЭМ | Опция |
| Манипулятор | Опция |
| Зондовые станции | Опция |
| Панель управления микроскопом | Опция |
| Трекбол | Опция |
| Столик для охлаждения | Опция |
| Столик для нагрева | Опция |
| Столик для растяжения/сжатия | Опция |
| Вакуумный шлюз | Опция |
| Функция замедления пучка | Есть |
| Внесен в госреестр | Не внесен |
| Производитель | «Melytec», Россия |
Сканирующий электронный микроскоп SM-50 отзывы
Ультразвуковые дефектоскопы Ручные спектрометры Портативные рентгеновские аппараты Ультразвуковые толщиномеры Твердомеры Толщиномеры покрытий
